石英晶體元器件專區 (Quartz Products Relative)

I.進料檢驗設備

美國 S&A 公司 石英晶體測試器 S&A 250B-2 Network Analyzer 詳細資料
S&A 250C-2 400MHz Network Analyzer 詳細資料
S&A 250D 800MHz Network Analyzer 詳細資料
石英晶體振盪器 S&A W-280B Oscillator Analyzer 詳細資料
石英晶體TCXO溫測系統 S&A W-2800B SMD Disc Pallet Oscillator Temperature Test System 詳細資料
零件溫測系統 S&A W-2500 Component Temperature Test System 詳細資料
石英震盪器溫測系統 S&A W-2200 Temperature Test System 詳細資料

II.生產及測試設備

美國 S&A 公司 測試設備 S&A 250B-2 Network Analyzer 詳細資料
S&A Crystal Test Fixtures 詳細資料
S&A Low Frequency/Watch Crystal Measurement Test Fixture 詳細資料
S&A Crystal Test Fixtures
(For High Drive Application)
詳細資料
S&A Crystal Measurement Reference Crystal 詳細資料
S&A W-280B Oscillator Analyzer 詳細資料
S&A W-910A SMD Crystal Pallet Test System 詳細資料
S&A W-920B SMD Oscillator Pallet Test System 詳細資料
鍍膜及微調設備 S&A W-5600 Base Plater Plating System 詳細資料
S&A W-5600 Thin-Film Deposition System 詳細資料
S&A W-5910 Quartz Crystal Etching System 詳細資料
S&A W-5910i Quartz Crystal Inline Etching System 詳細資料
S&A W-5910iB Quartz Crystal Etching System 詳細資料
S&A Dual W-5910iB Quartz Crystal Etching System 詳細資料
S&A W-5910iE Quartz Crystal Etching System 詳細資料
S&A Dual W-5910iE Quartz Crystal Etching System 詳細資料
S&A W-5920 Oscillator Etching System 詳細資料
S&A W-5920i Oscillator Inline Etching System 詳細資料
S&A W-5250S Plating System 詳細資料
溫度特性測試系統 S&A W-2200 Bench Top Temperature Test System 詳細資料
S&A W-2200 Temperature Test System 詳細資料
S&A W-2200 SMD Disc Pallet Temperature Test System 詳細資料
S&A W-2200B Temperature Test System 詳細資料
S&A W-2200B Dual Chamber Temperature Test System 詳細資料
S&A W-2200B SMD Disc Pallet Temperature Test System 詳細資料
S&A W-2200B Disc Pallet Dual Chamber Temperature Test System 詳細資料
S&A W-2200 High Speed TCXO Crystal Temperature Test 詳細資料
S&A W-2200 Low Frequency Crystal Disc Pallet Temperature Test System 詳細資料
S&A W-2220MR Crystal Temperature Test System 詳細資料
S&A T-714 Dual Row Crystal Test Wheel 詳細資料
S&A W-2200 Crystal Disc Pallet 詳細資料
S&A HC-49SMD Temperature Test Disc Pallet 詳細資料
S&A W-2800B SMD Disc Pallet Oscillator Temperature Test System 詳細資料
S&A W-2800B Oscillator Disc Pallet 詳細資料
W-2810 Oscillator Perturbation Test System 詳細資料
S&A W-2810MR Oscillator Perturbation Test System 詳細資料
S&A W-2810 TCXO Programming System 詳細資料
S&A W-2810MR-1 Oscillator Micro-Jump Test Systwm 詳細資料
桌上型溫補晶振編程系統 S&A W-280B TCXO Programming BenchTop System 詳細資料
溫度櫃 S&A 4310 Bench Top Temperature Test Chamber for Component Testing 詳細資料
S&A 4220 Chamber for Parametric Testing 詳細資料
S&A 4220MR Mechanical Refrigeration Chamber for Parametric Testing 詳細資料
S&A 4350 Temperature Test Chamber 詳細資料
S&A 4350MR Temperature Test Chamber 詳細資料
S&A 4365 Temperature Test Chamber 詳細資料
S&A 4366 Temperature Test Chamber 詳細資料
系統升級套件 S&A 5600 Capacitively Coupled Plasma Option 詳細資料
S&A 250B Upgrade Kit for 2000 Series Temperature Test System 詳細資料
S&A W-2200 Upgrade Kit for Transat TC-100 Temperature Chamber 詳細資料
圓片分選系統 S&A W-940A Blank Sorter 詳細資料
美國 AMADA WELD TECH INC. 公司

封焊系統
  * 電阻焊系統

Projection Welders 詳細資料

  * 金屬封裝器件平行滾焊系統

Seam Sealing 詳細資料

  * 手套箱 & 真空烤箱

Glove Box and Vacuum Oven 詳細資料
法國 Delta Tech.公司 晶棒X光量角儀 X-Ray Goniometer
GM.WS,GM.SI
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